Elena Brown
Rookie
- Oct 28, 2014
- 1
- 0
- 1
Direkt dock stil wafer sondera möjliggör en högre bandbredd, ökade pin densitet och testa fler enheter samtidigt. Direkt dock sonden kort stöder ocksÄ den vÀxande rörligheten för traditionella sista testet till wafer sond som tillÄter för kÀnda bra dö (KGD) och minskad Àgandekostnad.
SV TCL erbjuder mÄnga sondering lösningar med detta nya tester paradigm TrioTM traditionella vertikala LogicTouchTM MEMS vertikala och SpringTouchTM vÄren-pin teknik. VÄra nyckelfÀrdiga tjÀnster Àr idealiska för direkt dock, vi kan sköta hela projektet frÄn PCB design till sonden kortet montering och allt dÀremellan.
⹠NyckelfÀrdiga tjÀnster tillgÀngliga
-PCB/MLO Design & Fab
-Komponent montering
-Probe kort församling
-PCA
⹠Program som stöds
-Digital
-SOC
-RF
Kontakta din SV TCL representant sÄ kan vi hjÀlpa dig att hitta rÀtt direkt Dock produkt för din vertikal provning behöver.
SV TCL erbjuder mÄnga sondering lösningar med detta nya tester paradigm TrioTM traditionella vertikala LogicTouchTM MEMS vertikala och SpringTouchTM vÄren-pin teknik. VÄra nyckelfÀrdiga tjÀnster Àr idealiska för direkt dock, vi kan sköta hela projektet frÄn PCB design till sonden kortet montering och allt dÀremellan.
⹠NyckelfÀrdiga tjÀnster tillgÀngliga
-PCB/MLO Design & Fab
-Komponent montering
-Probe kort församling
-PCA
⹠Program som stöds
-Digital
-SOC
-RF
Kontakta din SV TCL representant sÄ kan vi hjÀlpa dig att hitta rÀtt direkt Dock produkt för din vertikal provning behöver.