Direkt dock stil wafer sondera möjliggör en högre bandbredd, ökade pin densitet och testa fler enheter samtidigt. Direkt dock sonden kort stöder också den växande rörligheten för traditionella sista testet till wafer sond som tillåter för kända bra dö (KGD) och minskad ägandekostnad.
SV TCL...